Grundlagen der Patentstatistik
| Datum Beginn: | , |
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| Vorauss. Ende: | , |
| Ort: | TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau / Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 Ilmenau |
| Referenten: | Adam Bartkowski, TU Ilmenau, PATON |
| Kosten pro Teilnehmer: | 250,00 € |
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen
Inhalt
- Kerninformation als Analyseziel
- Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
- Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
- Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
- Durchführung von Patentanalysen
- Kostenreduzierte Analysen
Kontakt für Rückfragen
Technische Universität Ilmenau
PATON | Landespatentzentrum Thüringen
Elke Thomä 03677 69 4507
Joanna Ritschel 03677 69 4511
paton.akademie@tu-ilmenau.de