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PIZ-Seminare

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Grundlagen der Patentstatistik

Datum Beginn: ,
Vorauss. Ende: ,
Ort: TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau / Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 Ilmenau
Referenten: Adam Bartkowski, TU Ilmenau, PATON
Kosten pro Teilnehmer: 250,00 €

Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen


Inhalt

  • Kerninformation als Analyseziel
  • Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
  • Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
  • Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
    • Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
    • Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
  • Durchführung von Patentanalysen
    • Kostenreduzierte Analysen

Kontakt für Rückfragen

Technische Universität Ilmenau
PATON | Landespatentzentrum Thüringen
Elke Thomä       03677 69 4507
Joanna Ritschel  03677 69 4511
paton.akademie@tu-ilmenau.de

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