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Rechtsstands- und Überwachungsrecherchen

Datum Beginn: ,
Vorauss. Ende: ,
Ort: TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau, Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 Ilmenau
Referenten: Elke Thomä, Bettina Töpfer, TU Ilmenau, PATON
Kosten pro Teilnehmer: 300,00

Ziel
Kenntnisse zu regionalen und internationalen Patentsystemen.

Zielgruppe
Personen aus dem Patentwesen, Patentrechercheure

Voraussetzung
Kenntnisse zum Patentwesen und zur Patentrecherche.

Inhalt

  • Typische Aufgabenstellungen für Rechtsstands- und Überwachungsrecherchen
  • Quellen für Rechtsstandsinformationen der Patentämter (DPMA, EPA, USPTO)
  • Möglichkeiten und Grenzen für Rechtsstands- und Überwachungsrecherchen in den kostenfreien Quellen
  • Aufbereitete Rechtsstandsinformationen in kostenpflichtigen Quellen
  • Manuelle und automatische Überwachungsrecherchen
  • Erhöhung der Effizienz von Überwachungsrecherchen durch gezielte Anfragen
  • Interpretation und Bewertung von Rechts- und Verfahrensstandsinformationen zu Patenten und Gebrauchsmustern anhand ausgewählter Beispiele.

Kontakt für Rückfragen

Technische Universität Ilmenau
PATON | Landespatentzentrum Thüringen
Elke Thomä       03677 69 4507
Joanna Ritschel  03677 69 4511
paton.akademie@tu-ilmenau.de

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