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Rechtsstands- und Überwachungsrecherchen

Datum Beginn: ,
Vorauss. Ende: ,
Ort: TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau, Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 Ilmenau
Referenten: Dipl.-Ing. Bettina Töpfer, TU Ilmenau, PATON
Kosten pro Teilnehmer: 300,00

Ziel

Sie kennen die Möglichkeiten und Grenzen für Rechtsstands- und Überwachungsrecherchen in kostenfreien WEB-Quellen und die effizienten Möglichkeiten für diese Recherchearten in kostenpflichtigen Patentdatenbanken. Sie sind in der Lage Rechts- und Verfahrensstandinformationen zu Patenten und Gebrauchsmustern zu interpretieren und bewerten.

Zielgruppe

Personen aus dem Patentwesen, Patentrechercheure

Voraussetzung

Kenntnisse zum Patentwesen und zur Patentrecherche

Inhalt

  • Typische Aufgabenstellungen für Rechtsstand- und Überwachungsrecherchen
  • Quellen für Rechtsstandinformationen der Patentämter (DPMA, EPA, USPTO)
  • Möglichkeiten und Grenzen für Rechtsstand- und Überwachungsrecherchen in den kostenfreien Quellen
  • Aufbereitete Rechtsstandinformationen in kostenpflichtigen Quellen
  • Manuelle und automatische Überwachungsrecherchen
  • Erhöhung der Effizienz von Überwachungsrecherchen durch gezielte Anfragen
  • Interpretation und Bewertung von Rechts- und Verfahrensstandinformationen zu Patenten und Gebrauchsmustern anhand ausgewählter Beispiele

Kontakt für Rückfragen

Technische Universität Ilmenau
PATON | Landespatentzentrum Thüringen
Heike Schwanbeck    03677 69 4591
Bettina Schmidt         03677 69 4595
paton.akademie@tu-ilmenau.de

Anmeldung unter:

https://ladon.patent-inf.tu-ilmenau.de/de/

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