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PIZ-Seminare

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Patentstatistik in STN Datenbanken

Datum Beginn: ,
Vorauss. Ende: ,
Ort: TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau / Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 IlmenauStr. 37, 98693 Ilmenau
Referenten: Elke Thomä, PATON
Kosten pro Teilnehmer: 97,50 €

Ziel
Sie sind in der Lage, mit den Möglichkeiten bei STN (STN-Suchsprache und STN Express) Patentstatistiken zu erstellen.

Zielgruppe
Patentrechercheure

Voraussetzung
Kenntnisse zur STN-Retrievalsprache und zu STN-Patentdatenbanken

Inhalt

  • Ermittlung einer repräsentativen Stichprobe für die Analyse

    • Fortschreibungskonzepte in Patentdatenbanken
    • Namensrecherchen und Recherchen nach Patentklassifikation

  • Möglichkeiten für die Analyse bei STN

    • Die Kommandos SELECT, ANALYZE und TABULATE
    • ANALYZE PLUS bei STN Express 8.3 (Ein-Feld-Analyse, Zwei-Feld-Analyse)

  • Häufige patentstatistische Analysen

    • Marktanalyse
    • Konkurrenzanalyse

  • Einführung in STNAnaVist
  • Beispielrecherchen für Zeitreihen, Erfinder- und Anmelderstatistik, Länderstatistik, Fachgebietsstatistik

    • Kontakt für Rückfragen

    Technische Universität Ilmenau
    PATON | Landespatentzentrum Thüringen
    Elke Thomä       03677 69 4507
    Joanna Ritschel  03677 69 4511
    paton.akademie@tu-ilmenau.de

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