Recherchen nach Patentklassifikationen (UPC, ECLA, USPC, FI/FTEMs, Manual Codes)
| Datum Beginn: | , |
|---|---|
| Vorauss. Ende: | , |
| Ort: | TU Ilmenau, PATON, Leibnizbau / Raum 4260, Langewiesener Str. 37, 98693 Ilmenau |
| Referenten: | Elke Thomä, TU Ilmenau, PATON |
| Kosten pro Teilnehmer: | 195,00 € |
Ziel
Verbesserung der Suchergebnisse durch effiziente Nutzung der Patentklassifikationen.
Zielgruppe
Personen, die Patentrecherchen durchführen
Voraussetzung
Grundlegende Kenntnisse im Patentwesen und in der Patentrecherche.
Inhalt
- Klassifikationsrecherchen in kostenfreien WEB-Patentdatenbanken
- Klassifikationsrecherchen in STN-Patentdatenbanken
- IPC, ECLA, USPC, FI/FTERMs, Derwent Manual Codes (STN)
- Aufbau
- Möglichkeiten zum Klassifizieren
- Strategien zur Ermittlung von Codes
- Recherchen mit Klassifikationscodes
- Entwicklung von Recherchestrategien mit Klassifikationen und Stichwörtern
- Cooperative Patent Classification (CPC)
Kontakt für Rückfragen
Technische Universität Ilmenau
PATON | Landespatentzentrum Thüringen
Elke Thomä 03677 69 4507
Joanna Ritschel 03677 69 4511
paton.akademie@tu-ilmenau.de